局部放电测试仪

产品分类：

局部放电测试仪

关键字：

局部放电测试仪

在线留言

产品详情

CS19010 系列局部放电测试仪是一款适用于高压隔离集成电路（如光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片）、半导体高压开关（如IGBT、MOSFET），及高压绝缘组件（如隔离基板）、低容值高压电容器等器件局部放电和耐压测试的综合测量设备，可实现 0.1kV~10kV 范围内耐压测试和局部放电测试。CS19010 系列局部放电测试仪采用试品串联耦合测量模式，测试方法符合通用局放测量标准 GB/T 7354-2018 （IEC60270：2000），同时也符合特定器件的局放测量标准，如光隔离器安全标准（IEC60747-5-5）、数字隔离器安全标准（IEC60747-17）、低电压设备安全标准（IEC60664-1）、半导体开关组件标准（IEC 60747-15）等；具有自定义高压输出波形、多种测量条件合格判断功能，用户可根据需求柔性组合，实现0.01uA~300uA 泄漏电流测量和 1pC~200pC 局部放电测量，可满足大多数集成隔离器件和高绝缘材料的产品品质测试需求。
　　CS19010 系列局部放电测试仪的主要应用领域：（1）工业生产，依据相关标准在高压器件（组件）生产过程中进行局部放电常规测试或现场诊断测试；（2）科学研究，对高压绝缘材料进行局部放电特性研究或绝缘劣化过程研究。
　　1. CS19010 局部放电测试仪技术参数1.1 组成部分：CS19010A 主机、CS19010B 局部放电测试模块CS19010C 局部放电校准器
　　1.2 局部放电测试仪技术参数

注： [1] 泄漏电流测量精度适用于电阻类和容性负载 [2]使用符合 IEC60270:2000 标准的局部放电校准器验证局部放电检测仪的性能，其测量准确度规格定义为与局部放电校准器的相对误差。 1.3 局部放电校准器技术参数